耐壓(Hipot)測試
產品介紹
它有什麼用途？
耐壓(Hipot)試驗室對地絕緣的介電強度試驗，用於確定接地牆是否能夠處理過電壓情況。過電壓是高於被測設備的峰值工作電壓(線對線)。峰值電壓為1.41 x RMS電壓。
耐壓(Hipot)試驗用於從非常低的電壓設備到高壓設備。對於中高壓旋轉設備，DC耐壓(Hipot)測試使用步階電壓(Step Voltage)或斜坡(Ramp)測試，以了解當電壓升高時是否可以檢測絕緣擊穿的開始。如開始擊穿，測試可在有電弧之前終止。
有兩種類型的耐壓(Hipot)試驗：DC Hipot和AC Hipot。此外，AC Hipot的功率頻率從非常低的頻率到50/60Hz。
Electrom iTIG II繞阻分析儀包括DC Hipot測試，並且包括自動步階電壓(Step Voltage)和斜坡(Ramp)測試，在Test Technologies部分進行了綜述。
可以通過由iTIG II控制的單獨單元將AC Hipot添加到iTIG II馬達測試儀中。
DC Hipot的工作原理
(有關詳細訊息，請參閱測試技術的DC HCipot測試)：
對繞阻施加直流過電壓電位，並以0.01μA的解析度測量對地電流。該電流包括來自繞阻的洩漏以及其它電流，例如：繞阻外部的表面電流。有關各種洩漏電流的更多訊息，請參閱測試技術的絕緣電阻。
使用的測試電壓取決於被測設備的狀況，範圍通常為2E至3.4E + 1700V，其中E為被測設備的RMS工作電壓。
iTIG II測試儀有3種可能的故障模式，該模式將關斷測試：
1. 超過過電流跳脫水平；該水平可由用戶以μA設定。
2. 檢測繞阻和地之間的電弧。
3. 作為步階電壓(Step Voltage)試驗的限制對地電流加速超過了變化率(ROC)水平。
DC Hipot測試是否具有破壞性？
DC Hipot測試是在高於被測設備工作電壓下完成的，因此被稱為過電壓測試。如果做得恰當，不會具有破壞性。其主要原因是測試電壓遠低於絕緣體的設計電壓。此外，可用的能量由施加的電壓和系統的電容確定。該電容相對較低。如果由於絕緣弱而發生電弧，電弧中相對較低的能量不會損壞絕緣，除非在不推薦用於過電壓測試的條件下進行測試。
有關Hipot電弧測試的更多細節和示例，請參閱測試技術的DC HCipot測試。
耐壓(Hipot)試驗室對地絕緣的介電強度試驗，用於確定接地牆是否能夠處理過電壓情況。過電壓是高於被測設備的峰值工作電壓(線對線)。峰值電壓為1.41 x RMS電壓。
耐壓(Hipot)試驗用於從非常低的電壓設備到高壓設備。對於中高壓旋轉設備，DC耐壓(Hipot)測試使用步階電壓(Step Voltage)或斜坡(Ramp)測試，以了解當電壓升高時是否可以檢測絕緣擊穿的開始。如開始擊穿，測試可在有電弧之前終止。
有兩種類型的耐壓(Hipot)試驗：DC Hipot和AC Hipot。此外，AC Hipot的功率頻率從非常低的頻率到50/60Hz。
Electrom iTIG II繞阻分析儀包括DC Hipot測試，並且包括自動步階電壓(Step Voltage)和斜坡(Ramp)測試，在Test Technologies部分進行了綜述。
可以通過由iTIG II控制的單獨單元將AC Hipot添加到iTIG II馬達測試儀中。
DC Hipot的工作原理
(有關詳細訊息，請參閱測試技術的DC HCipot測試)：
對繞阻施加直流過電壓電位，並以0.01μA的解析度測量對地電流。該電流包括來自繞阻的洩漏以及其它電流，例如：繞阻外部的表面電流。有關各種洩漏電流的更多訊息，請參閱測試技術的絕緣電阻。
使用的測試電壓取決於被測設備的狀況，範圍通常為2E至3.4E + 1700V，其中E為被測設備的RMS工作電壓。
iTIG II測試儀有3種可能的故障模式，該模式將關斷測試：
1. 超過過電流跳脫水平；該水平可由用戶以μA設定。
2. 檢測繞阻和地之間的電弧。
3. 作為步階電壓(Step Voltage)試驗的限制對地電流加速超過了變化率(ROC)水平。
DC Hipot測試是否具有破壞性？
DC Hipot測試是在高於被測設備工作電壓下完成的，因此被稱為過電壓測試。如果做得恰當，不會具有破壞性。其主要原因是測試電壓遠低於絕緣體的設計電壓。此外，可用的能量由施加的電壓和系統的電容確定。該電容相對較低。如果由於絕緣弱而發生電弧，電弧中相對較低的能量不會損壞絕緣，除非在不推薦用於過電壓測試的條件下進行測試。
有關Hipot電弧測試的更多細節和示例，請參閱測試技術的DC HCipot測試。